帶有用于 nanoCT 和 microCT 測量的基準標(biāo)記的樣品架-R1-Shadow，可以快速直觀地校正旋轉(zhuǎn)臺的不準確性和 CT 數(shù)據(jù)配準，適用于雙能量 CT 或 4D CT 等應(yīng)用。R1-Shadow是一種多用途解決方案，適合可變視場 (FOV) 限制和高精度要求。CT轉(zhuǎn)臺擺動校正樣品架基準尺寸 [µm]: 25 25 50 100適用于 Dual-Energy CT or 4D CT
帶有用于 nanoCT 和 microCT 測量的基準標(biāo)記的樣品架，可以快速直觀地校正旋轉(zhuǎn)臺的不準確性和 CT 數(shù)據(jù)配準，適用于雙能量 CT 或 4D CT 等應(yīng)用。R1-Shadow 是一種多用途解決方案，適合可變視場 (FOV) 限制和高精度要求。
? 4 種尺寸可選 ? 快速，簡單，易用 ? 數(shù)據(jù)匹配精度小于1個像素 ? 數(shù)據(jù)質(zhì)量和精度增強
尺寸可選項 | I | II | III | IV | |
基準尺寸 [μm] | 25 | 25 | 50 | 100 | |
最大像素尺寸[μm]* | 2.5 | 2.5 | 5.0 | 10.0 | |
支架尺寸r [mm] | 1.5 | 3.0 | 5.0 | 10.0 | |
支架長度 [mm] | 50.5 | 50.5 | 50.5 | 50.5 | |
使用材料 | 碳, 聚酰亞胺膠帶, 不銹鋼 | ||||
包裝可選項 |
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平移臺誤差校正和配準流程 | imageJ plugin/ 任何CT數(shù)據(jù)采集軟件 | ||||
CT轉(zhuǎn)臺擺動校正樣品架-R1_Shadow（眾星聯(lián)恒）.pdf
