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【第三期】揭示扁平結構的內部秘密：X射線計算機層析(CL)成像的興起
點擊藍字，關注我們導讀XCT mastery Monthly - 精通X射線CT月刊是由Francesco Iacoviello博士發(fā)起、撰寫并發(fā)布的，旨在給大家分享X射線CT相關的使用技巧、潛在竅門及經驗見解。每期都會深入探討 XCT實踐中面臨的挑戰(zhàn)和解決方案，涵蓋以下主題：圖像優(yōu)化：學習實現(xiàn)清晰CT 掃描的技巧。故障排除：掌握克服常見 CT 問題和偽影的策略。高級技術：探索前沿方法和軟件功能。
2025-08-13 unistar
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眾星聚焦-瑞典Uppsala，超快X射線科學領域的博士后職位
點擊藍字 關注我們盡管全球科技格局面臨諸多不確定性，未來的世界也許是割裂的，但是尖端技術的火種、及人類對于未知奇妙世界秩序的探索始終會在文明長河中奔涌不息。 X 射線及極紫外（EUV）技術作為突破物理極限的關鍵領域，正在推動基礎科學、半導體、精密檢測等行業(yè)的深刻變革。作為深耕 X 射線及極紫外（EUV）核心部件領域的技術服務商和解決方案的探索者，眾星聯(lián)恒始終以"技術瞭望者"的視角，捕捉全球最新的
2025-08-13 unistar
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用于自由電子激光的金剛石光學元件
點擊藍字 關注我們萬億瓦激光劈不開的金剛石！高峰值功率光源光學元件的終極答案微納金剛石結構加工技術突破與應用全景01背景（光源發(fā)展）自1895年，威廉·倫琴偶然發(fā)現(xiàn)了 X 光，并拍攝了有史以來第一張 X 光圖像，X射線得到廣泛的應用。人類對于自主控制X光的發(fā)生控制技術也得到了充分的發(fā)展，并朝著更亮、更強的方向不斷發(fā)展。目前基于自由電子激光原理（XFEL）的 X 射線光源正逐步增多，或在建或已投入運
2025-07-28 unistar
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眾星聯(lián)恒-前沿視界- 極紫外光刻解決方案提供商ESOL獲得740億韓元B輪投資
點擊藍字 關注我們世界或許會分化，但科學的光永不熄滅盡管全球科技格局面臨諸多不確定性，未來的世界也許是割裂的，但是尖端技術的火種、及人類對于未知奇妙世界秩序的探索始終會在文明長河中奔涌不息。 X 射線與極紫外（EUV）技術作為突破物理極限的關鍵領域，正在推動基礎科學、半導體、精密檢測等行業(yè)的深刻變革。作為深耕極紫外（EUV）及X射線核心部件領域的技術服務商和解決方案的探索者，眾星聯(lián)恒始終以"技術瞭
2025-07-18 unistar
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![超越吸收-相襯&光譜成像技術打開顯微CT新“視界”]()
超越吸收-相襯&光譜成像技術打開顯微CT新“視界”
點擊藍字關注我們微型計算機斷層掃描又名微米CT（micro-CT）技術作為無損檢測（NDT）、材料分析和生物醫(yī)學研究的關鍵成像技術已應用數(shù)十年。然而隨著現(xiàn)代材料日益復雜化——多材料組件、精細微結構和低密度元件的出現(xiàn)，傳統(tǒng)基于吸收成像的micro-CT技術局限性愈發(fā)凸顯。為應對這些新挑戰(zhàn)，micro-CT技術已突破單一吸收對比模式，整合了相襯成像與光譜成像等新型對比度機制。KAImaging公司的i
2025-07-18 unistar
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![【第二期】揭開隱形的面紗：計算機斷層掃描中X射線產生的奇跡]()
【第二期】揭開隱形的面紗：計算機斷層掃描中X射線產生的奇跡
點擊藍字，關注我們導讀XCT mastery Monthly - 精通X射線CT月刊是由Francesco Iacoviello博士發(fā)起、撰寫并發(fā)布的，旨在給大家分享X射線CT相關的使用技巧、潛在竅門及經驗見解。每期都會深入探討 XCT實踐中面臨的挑戰(zhàn)和解決方案，涵蓋以下主題：圖像優(yōu)化：學習實現(xiàn)清晰CT 掃描的技巧。故障排除：掌握克服常見 CT 問題和偽影的策略。高級技術：探索前沿方法和軟件功能。
2025-07-10 unistar
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![國際快訊-中子研究盛會啟幕！XRnanotech 與你共赴前沿]()
國際快訊-中子研究盛會啟幕！XRnanotech 與你共赴前沿
點擊藍字 關注我們1ICNS 2025國際中子散射大會（ICNS）是國際中子散射學會授權舉辦的四年一屆的權威學術會議。本屆會議由歐洲散裂中子源（ESS）和隆德大學聯(lián)合主辦，全球中子科學領域的科研人員將齊聚盛會，共同聚焦：中子源與儀器技術進展凝聚態(tài)物理與材料科學應用軟物質與生物結構研究會議時間：2025 年 7 月 6 日 - 10 日舉辦地點：瑞典隆德大學主會場 丹麥哥本哈根
2025-07-10 unistar
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![Timepix系列混合像素探測器推動4D-STEM等電鏡技術的發(fā)展]()
Timepix系列混合像素探測器推動4D-STEM等電鏡技術的發(fā)展
點擊藍字，關注我們導讀過去十年間，直接電子探測器技術的迅速發(fā)展，推動了掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）和掃描透射電鏡（STEM）中的多種應用技術發(fā)展，包括冷凍電鏡單粒子分析、原位TEM、micro-ED、電子背散射衍射、4D-STEM和電子能量損失譜等。相較于傳統(tǒng)閃爍體耦合的間接探測器，直接電子探測器憑借更高的靈敏度與信噪比（SNR）優(yōu)勢，已在材料和生物電子顯微領域得到廣泛應用，成為一項重要
2025-07-04 unistar
