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行業(yè)資訊

  • 會議預告-PRORA Berlin 2024 ? X射線分析及其工業(yè)應用頂級會議

    從回收和環(huán)境分析到 X 射線成像的突破,PRORA 是德國工業(yè)技術創(chuàng)新的中心。今年的 X 射線分析會議將有來自研究機構、大學和工業(yè)公司的演講和海報投稿,除了經驗豐富的同行,眾多專業(yè)學生和年輕科學家也都受邀參加。本次會議將再次舉辦工業(yè)展覽,邀請了 X 射線分析設備和配件制造商以及相應技術的用戶進行展示。本次,德國深耕X射線領域的廠商均報名參與本次會議,包括SPECTRO AnalyticalInst

    2024-11-13 unistar

  • 新篇章!瑞士領先的納米光學器件制造商XRnanotech收購Microworks公司

    Breaking News!本月,來自瑞士領先的納米技術光學器件制造商XRnanotech正式宣布完成對Microworks的收購!這一戰(zhàn)略性的舉措不僅標志著兩家公司在各自領域內的重大突破,更是將XRnanotech在納米技術領域的開創(chuàng)性進展與Microworks在微米領域的尖端優(yōu)勢進行了完美融合。從此,雙方將攜手并進,共同突破科技的界限,為全球客戶帶來從微米到納米尺度的全方位解決方案。作為XRn

    2024-10-28 unistar

  • 所見即所得:混合光子計數(shù)探測器—您的調光神器

    調光系統(tǒng)結構不緊湊,調光步驟復雜,調光存在安全隱患……你還在用傳統(tǒng)的平板探測器調光嗎?那你真的有必要知道這款由捷克Advacam公司提供的像素化的小型混合光子計數(shù)探測器MiniPIX,它具有單光子靈敏和能量閾值設定等特點,可以同時獲得光斑的位置、尺寸和強度分布信息,體積僅有U盤大小,讓你從此告別復雜的低靈敏的光路調節(jié)。圖1 MiniPIX探測器實物圖經過多年的市場和實驗驗證,MiniPIX在實現(xiàn)光

    2024-10-18 unistar

  • 顯微知著,啟迪未來 - 2024全國電子顯微學學術年會將于東莞盛大召開

    CLICK點擊藍字 關注我們在新質生產力創(chuàng)新起主導作用的今天,顯微學人以振興電子顯微學事業(yè)發(fā)展為己任,瞄準國家重大需求和國際前沿科學問題,不斷為我國卡脖子難題的攻克貢獻中國電子顯微學者不可或缺的重要力量。本屆電子顯微學學術年會將展示顯微學相關理論、儀器制造、技術和實驗方法的最新進展,意在促進電鏡及其他顯微學儀器的運行、管理、維護、開放共享,實驗平臺的建設和發(fā)展的交流。眾星將在本次大會上帶來在EM

    2024-10-18 unistar

  • 新的X射線世界紀錄:以4nm的分辨率觀察微芯片內部結構

    Paul Scherrer Institute (PSI) 的研究人員與洛桑聯(lián)邦理工學院、蘇黎世聯(lián)邦理工學院和南加州大學合作,利用 X 射線技術取得了重大突破。利用PSI 瑞士光源 SLS 發(fā)出的 X 射線,并采用由瑞士XRnanotech公司提供的最外環(huán)寬度為30nm,高度為400nm的FZP(菲涅爾波帶片)聚焦,以前所未有的高分辨率觀察了微芯片內部結構,實現(xiàn)了4nm的圖像分辨率,創(chuàng)下了新的世界

    2024-10-18 unistar

  • 一款用于EUV光化檢測的光源

    掩膜檢測的重要性掩膜檢查在半導體制造中至關重要,特別是在光刻過程中,掩膜(也稱為光掩膜)用于將電路圖案轉移到半導體晶圓上。 1. 圖案準確性關鍵尺寸(CD, critical dimention)控制:掩膜定義了轉移到晶圓上的特征。掩膜中的任何缺陷或偏差都可能導致晶圓上的特征尺寸不準確,從而影響最終半導體器件的性能。套準精度:掩膜在曝光過程中必須與晶圓精確對準。即使是輕微的錯位也會導致套準誤差,影

    2024-10-18 unistar

  • 看見生命的微妙瞬間:高靈敏度CCD相機,活體成像的理想選擇

    INT可見光成像技術簡介活體成像技術是一種應用影像學方法,對活體狀態(tài)下的生物過程進行組織、細胞和分子水平的定性及定量研究的技術。與傳統(tǒng)生物體實驗方法相比,該技術可以在不破壞活體組織的前提下,對其內部結構和動態(tài)生理過程進行實時、非侵入性的觀察,具有操作簡便、靈敏度高、檢測速度快等特點,在生命科學研究、藥物開發(fā)等領域中發(fā)揮著重要作用??梢姽獬上窦夹g是動植物活體成像應用最為廣泛的實驗技術,通過對同一組實

    2024-10-18 unistar

  • 八面玲瓏的X光探針:X射線顯微成像術

    一、引 言:自1895年威廉·康拉德·倫琴(Wilhelm Conrad Röntgen)發(fā)現(xiàn)X射線以來,經過一個多世紀的發(fā)展,我們在對于X光產生、調制、探測和相應的分析法及算法都有長足的進步。八面玲瓏的X光在天文、高能天體物理、科研工作中材料分析、工業(yè)生產中的質控和探傷、安檢、醫(yī)療等領域都起著舉足輕重的作用。涉及到分析法,X射線衍射、熒光、散射,吸收成像,相襯成像,光電子能譜儀、PTY成像等等。

    2024-10-18 unistar

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