XRN顯微CT分辨率測試卡（0.1-50μm）
X射線分辨率測試卡是測量成像系統(tǒng)成像質(zhì)量的重要工具，我司可提供各種類型的測試卡以滿足您的各種需求。圖案類型包括線對、孔陣列和西門子星等。
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產(chǎn)地
： 瑞士 -
型號
： uCT-XRn系列 -
品牌
： XRnanotech
產(chǎn)品介紹：
空間分辨率是 CT 圖像質(zhì)量的一項重要性能指標(biāo)，其測試工作也是 CT 設(shè)備性能測試的重要內(nèi)容。線對卡法，是使用線對測試卡直接測試空間分辨率，由于操作方便、簡捷而被廣泛用于 實際工業(yè) CT 空間分辨率的測試中。
新一代顯微CT分辨率測試卡：提升您的 X 射線成像體驗！我們尖端的測試卡通過融合現(xiàn)代微納米制造技術(shù)（包括頂級電子束光刻技術(shù)）精心設(shè)計、制造而成。創(chuàng)新的測試圖案展示了從 50μm 到 200nm 的線條和空間，以及西門子星圖形。我們的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品旨在超越預(yù)期。對于尋求量身定制解決方案的客戶，我們還提供完全可定制的選項。
主要參數(shù)：
高襯度材料: 4 /1.5/1 μm 金可選
超寬的測試范圍：0.2-50μm含26中線對
緊湊的設(shè)計：含或不含西門子星圖案
深度的SEM測試：保證出貨前每片測試，以保證測試精度
保護(hù)層：5μm厚聚合物，以增強機械強度和壽命
快遞交付：大量庫存
質(zhì)量保證：每年交付數(shù)百片
領(lǐng)先的襯噪比：
關(guān)于XRnanotech：
XRnanotech是瑞士領(lǐng)先的高質(zhì)量x射線光學(xué)元件制造商，從具有破紀(jì)錄分辨率的高縱橫比菲涅耳帶片到超穩(wěn)定的鉆石光學(xué)元件和用于廣泛x射線應(yīng)用的定制3d納米結(jié)構(gòu)。眾星聯(lián)恒聯(lián)合XRnanotech，為中國用戶提供所有售前咨詢，銷售及售后服務(wù)，歡迎聯(lián)系我們。
產(chǎn)品手冊：
顯微CT分辨率測試卡 MicroCT Resolution Test Target-產(chǎn)品手冊-眾星聯(lián)恒-2025-4-7.pdf
參考文獻(xiàn)：