13.5nm菲涅爾波帶片
襯度材料:SiO2 襯度材料厚度:~250nm支撐薄膜材料:Si支撐薄膜厚度:~200nm支撐薄膜透過率: 預(yù)計衍射效率>14% @13.5nm主要應(yīng)用方向:相干衍射成像掩模版檢測
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襯度材料:SiO2 襯度材料厚度:~250nm支撐薄膜材料:Si支撐薄膜厚度:~200nm支撐薄膜透過率: 預(yù)計衍射效率>14% @13.5nm主要應(yīng)用方向:相干衍射成像掩模版檢測
襯度材料:SiO2
襯度材料厚度:~250nm
支撐薄膜材料:Si
支撐薄膜厚度:~200nm
支撐薄膜透過率:~70%
預(yù)計衍射效率>14% @13.5nm
相干衍射成像
掩模版檢測
EUV顯微成像
角分辨光電子能譜