easyLIGHT XUV 緊湊型平場極紫外光譜儀
波長范圍30 ~ 250 nm
-
產地
: 德國 -
型號
: easyLIGHT XUV -
品牌
: HP Spectroscopy
波長范圍30 ~ 250 nm
HP Spectroscopy:德國HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于為全球科研及工業(yè)領域的客戶定制最佳解決方案,是科學儀器的全球供應商和領先開發(fā)商。產品線包括XAS系統(tǒng),XUV/VUV/X-ray光譜儀,beamline產品等。主要團隊由x射線、光譜、光柵設計、等離子體物理、beamline等領域的專家組成。并與全球領先的研究機構的科學家維持緊密合作,關注前沿技術,保持產品的迭代與創(chuàng)新。
平場、垂直入射光譜儀
專有的無狹縫設計以保證最高效率
波長范圍30 ~ 250 nm
同品類中最緊湊的光譜儀
模塊化、成套設計
easyLIGHT XUV以前所未有的效率提供寬帶光譜測量。 無狹縫設計直接對輻射源成像,從而消除了繁瑣的入口狹縫。 30至250nm的光譜范圍方便地涵蓋了HHG和等離子體診斷中的許多應用。 與掠入射光譜儀相比,easyLIGHT XUV的垂直入射設計可提供簡單的安裝和對準。 模塊化設計與各種實驗幾何形狀和配置相匹配。 easyLIGHT具有集成的狹縫固定器和閉環(huán)電動光柵定位功能。
探測器可選類型:
VUV CCD相機具有最高的分辨率和動態(tài)范圍
MCP、CMOS探測器具有最寬的波長覆蓋范圍和門控及增強探測器能力
基于easyLIGHT光譜儀的定制設計可討論
無狹縫設計
HPS公司專有的光譜儀設計可用于直接源成像。 因此,不需要狹窄的入口狹縫,并且可以最大程度地收集入射光。 與傳統(tǒng)的光譜儀架構相比,到達探測器的光強會高出20倍。 該結構還極大地提高了日常操作的穩(wěn)定性。
Topology/類型 | aberration-corrected flat-field spectrometer 像差校正平場入射光譜儀 |
波長范圍 | 30-250nm |
光源距離 | 可根據用戶實際光路靈活調整 |
探測器類型 | CCD /MCP/CMOS |
真空兼容度 | <10-6mbar (UHV超高真空版本可定制) |
無狹縫技術 | 含 |
輸入狹縫 | 可選 |
光柵定位 | 閉環(huán)電控臺 |
濾光片插入單元 | 含 |
數(shù)據接口 | USB or Ethernet |
軟件 | Windows UI / Labview, VB, C, C++ SDK |
定制能力 | 可根據需求定制 |
其余可選項 | 非磁性,旋轉幾何等 |
色散能力 | ~2.0nm/mm |
分辨率 | <0.1nm |
平場面物理尺寸 | 75mm |
偏差角 | 94° |
高次諧波光源
阿秒科學
強激光與物質相互作用
激光和放電產生等離子體源
同步輻射光束表征
自由電子激光
HP-Spectroscopy_easyLIGHT XUV緊湊型平場極紫外光譜儀_datasheet_2021-5-19.pdf
Topology/類型 | aberration-corrected flat-field spectrometer 像差校正平場入射光譜儀 |
波長范圍 | 30-250nm |
光源距離 | 可根據用戶實際光路靈活調整 |
探測器類型 | CCD /MCP/CMOS |
真空兼容度 | <10-6mbar (UHV超高真空版本可定制) |
無狹縫技術 | 含 |
輸入狹縫 | 可選 |
光柵定位 | 閉環(huán)電控臺 |
濾光片插入單元 | 含 |
數(shù)據接口 | USB or Ethernet |
軟件 | Windows UI / Labview, VB, C, C++ SDK |
定制能力 | 可根據需求定制 |
其余可選項 | 非磁性,旋轉幾何等 |
色散能力 | ~2.0nm/mm |
分辨率 | <0.1nm |
平場面物理尺寸 | 75mm |
偏差角 | 94° |
應用
高次諧波光源
阿秒科學
強激光與物質相互作用
激光和放電產生等離子體源
同步輻射光束表征
自由電子激光
HP-Spectroscopy_easyLIGHT XUV緊湊型平場極紫外光譜儀_datasheet_2021-5-19.pdf