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XUV/VUV/X射線光譜儀

easyLIGHT XUV 緊湊型平場極紫外光譜儀

波長范圍30 ~ 250 nm

  • 產地 德國
  • 型號 easyLIGHT XUV
  • 品牌 HP Spectroscopy

產品介紹

HP Spectroscopy:德國HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于為全球科研及工業(yè)領域的客戶定制最佳解決方案,是科學儀器的全球供應商和領先開發(fā)商。產品線包括XAS系統(tǒng),XUV/VUV/X-ray光譜儀,beamline產品等。主要團隊由x射線、光譜、光柵設計、等離子體物理、beamline等領域的專家組成。并與全球領先的研究機構的科學家維持緊密合作,關注前沿技術,保持產品的迭代與創(chuàng)新。

特征優(yōu)勢

  • 平場、垂直入射光譜儀

  • 專有的無狹縫設計以保證最高效率

  • 波長范圍30 ~ 250 nm

  • 同品類中最緊湊的光譜儀

  • 模塊化、成套設計

easyLIGHT XUV以前所未有的效率提供寬帶光譜測量。 無狹縫設計直接對輻射源成像,從而消除了繁瑣的入口狹縫。 30至250nm的光譜范圍方便地涵蓋了HHG和等離子體診斷中的許多應用。 與掠入射光譜儀相比,easyLIGHT XUV的垂直入射設計可提供簡單的安裝和對準。 模塊化設計與各種實驗幾何形狀和配置相匹配。 easyLIGHT具有集成的狹縫固定器和閉環(huán)電動光柵定位功能。

探測器可選類型:

  •  VUV CCD相機具有最高的分辨率和動態(tài)范圍

  • MCP、CMOS探測器具有最寬的波長覆蓋范圍和門控及增強探測器能力

基于easyLIGHT光譜儀的定制設計可討論

無狹縫設計

HPS公司專有的光譜儀設計可用于直接源成像。 因此,不需要狹窄的入口狹縫,并且可以最大程度地收集入射光。 與傳統(tǒng)的光譜儀架構相比,到達探測器的光強會高出20倍。 該結構還極大地提高了日常操作的穩(wěn)定性。

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

規(guī)格參數(shù)

Topology/類型

aberration-corrected flat-field spectrometer

像差校正平場入射光譜儀

波長范圍

30-250nm

光源距離

可根據用戶實際光路靈活調整

探測器類型

CCD /MCP/CMOS

真空兼容度

<10-6mbar (UHV超高真空版本可定制)

無狹縫技術

輸入狹縫

可選

光柵定位

閉環(huán)電控臺

  濾光片插入單元

數(shù)據接口

USB or Ethernet

軟件

Windows UI / Labview, VB, C, C++ SDK

定制能力

可根據需求定制

其余可選項

非磁性,旋轉幾何等


色散能力

~2.0nm/mm

分辨率

<0.1nm

平場面物理尺寸

75mm

偏差角

94°


典型應用

  • 高次諧波光源

  • 阿秒科學

  • 強激光與物質相互作用

  • 激光和放電產生等離子體源

  • 同步輻射光束表征

  • 自由電子激光


資料/文獻

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司HP-Spectroscopy_easyLIGHT XUV緊湊型平場極紫外光譜儀_datasheet_2021-5-19.pdf


規(guī)格參數(shù)

Topology/類型

aberration-corrected flat-field spectrometer

像差校正平場入射光譜儀

波長范圍

30-250nm

光源距離

可根據用戶實際光路靈活調整

探測器類型

CCD /MCP/CMOS

真空兼容度

<10-6mbar (UHV超高真空版本可定制)

無狹縫技術

輸入狹縫

可選

光柵定位

閉環(huán)電控臺

  濾光片插入單元

數(shù)據接口

USB or Ethernet

軟件

Windows UI / Labview, VB, C, C++ SDK

定制能力

可根據需求定制

其余可選項

非磁性,旋轉幾何等


色散能力

~2.0nm/mm

分辨率

<0.1nm

平場面物理尺寸

75mm

偏差角

94°


應用

  • 高次諧波光源

  • 阿秒科學

  • 強激光與物質相互作用

  • 激光和放電產生等離子體源

  • 同步輻射光束表征

  • 自由電子激光


北京眾星聯(lián)恒科技有限公司HP-Spectroscopy_easyLIGHT XUV緊湊型平場極紫外光譜儀_datasheet_2021-5-19.pdf


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