在過去的幾年里，Orion高分辨X射線光譜儀已經成功地測量了Orion激光裝置產生的等離子體X射線光譜。利弗莫爾EBIT-1和SuperEBIT電子束離子阱的Duplicate光譜儀也成功運行，用于測量X射線偏振。

最近來自美國勞倫斯利弗莫爾國家實驗室物理部，英國研究和應用科學理事會和Inrad公司的聯合研究團隊采用了高質量的、光學粘合的、球形彎曲石英晶體來消除在早期測量中觀察到的X射線圖像中的結構。該結構是由聚焦缺陷造成的，限制了實驗的測量精度。

文章中展示了前后的圖像，可以看出明顯的改善。此外，科學家還在的一臺光譜儀上應用了球形彎曲鄰苯二甲酸鉀(KAP)晶體。他們以類似的方式制備了KAP晶體，并分別在600和1200 eV的一階和二階反射中測量了N Ly-β線和Ne Ly-β線。

這些測量結果證明，可以制造出光譜范圍比不同石英晶體所覆蓋的更廣的KAP晶體，特別是能那些覆蓋到天體物理學中重要的鐵的輻射線線。

眾星聯恒團隊具有多年的X射線核心部件及解決方案提供的經驗，我們可以根據您的實驗需要提供不同類型的X射線晶體及使用中能X射線的多層膜分析晶體。

據布拉格定律，X射線會在晶體的晶格平面發(fā)生衍射，并滿足以下公式:

2d sinθ = k λ

其中

◆  λ是入射X射線光束的波長。

◆  θ被稱為布拉格角，即滿足上述布拉格公式時，X射線被晶體衍射時的角度。

◆ λ和θ兩個參數通過晶面間的原子間距d，在物理上聯系在了一起。一旦為特定的衍射選擇了確定的晶體材料后，晶面間距d就確定了。

◆ 2d值則規(guī)定了該晶體能發(fā)生衍射的最長波長。

◆ 一般而言, 常用的布拉格角被限制在85°以內。

依據布拉格公式，X射線光學用晶體材料的選型原則如下：波長范圍和布拉格角共同決定了2d值的選擇。

材料能夠耐受X射線束的通量和能量的能力；例如，有機晶體不能耐受高通量的X射線束，或反復的（較高通量的）X射線束曝光；當需要對其進行彎曲時，有足夠的機械能力；晶體的衍射/反射能力；然后可以通過晶體的成本來確定最經濟的選擇。比如鍺晶體的成本要高于硅晶體。

我司可以提供如下各種類型的平晶和彎晶，面型包括柱面、球面、拋物面、超環(huán)面和圓錐面等。

同時我司也可以提供德國Incoatec公司的基于多層膜的用于輕元素X射線熒光光譜的分析晶體，其主要特點如下：

◆ 用于XRF,全反射X射線熒光（TXRF）和電子探針微量分析（EPMA）

◆ 更低的輕元素檢測限

◆ 更快的分析速度，分析鈹、硼和碳時的性能提升30%